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日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡

更新時間:2025-06-27

簡要描述:

日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡
白色干渉測定用対物レンズ WLI Plan Apo

型號:WLI Plan Apo 5x廠商性質:經銷商瀏覽量:93
品牌MITUTOYO/日本三豐產地類別進口
應用領域環保,生物產業,電子/電池,航空航天

日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡

Mitutoyo三豐白光干涉物鏡 WLI Plan Apo 5x

日本Mitutoyo三豐378-005干涉物鏡替代尼康干涉物鏡

數值孔徑 (NA) 數值孔徑 (NA) 是決定物鏡分辨率、焦深、圖像亮度等的重要參數。數值孔徑 (NA) 用以下公式表示,該值越大,獲得的圖像分辨率越高,焦深越淺。N.A.=n?Sinθ n 是物鏡與樣品之間介質的折射率,空氣中 n=1.0。θ 是通過物鏡最外層的光線與透鏡中心(光軸)之間的夾角


場數(F.N. = Field Number)與實際視野 (1)顯微鏡可觀察到的標本范圍(直徑) ● 通過目鏡觀察時(貝雷克公式) 可觀察到的標本表面面積由目鏡視場光闌的直徑決定,以毫米為單位表示的這個尺寸稱為場數。實際視野是通過物鏡實際放大觀察到的物體表面的范圍。實際視野可以使用以下公式計算

焦深 (D.F. = Depth of Focus) 在顯微鏡下,即使焦平面在成像聚焦平面的前方或后方移動,仍能清晰地看到圖像的范圍。數值孔徑越大,焦深越淺。反之,焦深越深(數值孔徑越小),圖像的聚焦范圍越廣,在同一焦點處甚至可以看到微小的差異。由于人眼的調節能力存在個體差異,因此人們感知到的焦深也存在個體差異。目前,通常使用與實驗結果非常接近的貝雷克公式。立體顯微鏡等低倍鏡頭具有較深的焦深,這與相機術語景深同義



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