日本EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5002

日本EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5002

 EMIC愛美克 ET-5002 渦流探傷儀

渦電流探傷器

ＥＴ－５００２

自動(dòng)探傷用に適したベクトル液晶表示
各種條件設(shè)定表示を裝備 ダイレクトキースイッチにより條件設(shè)定が簡(jiǎn)単
既存検査搬送ラインに組み込む事により、簡(jiǎn)単に自動(dòng)探傷システムの構(gòu)成が可能
複數(shù)臺(tái)の構(gòu)成で多チャンネルが可能な機(jī)能も裝備
オプション機(jī)能で予め設(shè)定された條件を外部より選択、探傷も可能

用途

●ディスク?ハブ?スピンドル?バルブリフター?ラックシャフト?スタットボルト?バルブシート?ベアリング?コンロッド?ボールジョイントなどの自動(dòng)探傷

通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合，能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè)：2/3型、高倍率側(cè)：1/2型等)

通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合，可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線